導熱硅膠片的老化測試有很多設計思路。

這次介紹的方法稱為快速溫度測試方法。

該方法的測試儀器：快速溫度變化的濕熱試驗箱；試驗條件：溫度26℃，濕度42％RH。

1.測試導熱硅膠片的初始參數(shù)：導熱系數(shù)，硬度，抗張強度，耐電壓，體積電阻，阻燃等級等； 2.快速的反復溫度沖擊：將被測導熱硅膠片在-40℃的低溫下放置30分鐘，然后迅速將溫度升至120°C并保持30分鐘，以連續(xù)沖擊500個循環(huán)； 3.取出導熱硅膠片，在室溫下放置30分鐘，沖擊后測試導熱硅膠片的參數(shù)：導熱系數(shù)，硬度，抗張強度，耐電壓，體積電阻，阻燃等級等，與初始參數(shù)值進行定量比較和分析； 4.通過定量比較和分析，可以推斷出導熱硅樹脂片的使用壽命。

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